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彎曲元件試驗(yàn)系統(tǒng)BES 是英國GDS公司研發(fā)的一套精巧的測量土體動態(tài)性能指標(biāo)的工具。

GDS彎曲元件可以容易地在三軸壓力室中測量土在小應(yīng)變時(shí)的大剪切模量。由於荷載和位移測量裝置的分辨率和精度不夠，因此，在室內(nèi)很小的應(yīng)變條件下測量土的剛度是困難的。以前在三軸試驗(yàn)中測量小應(yīng)變剛度通常採用局部應(yīng)變傳感器，但是這種傳感器的價(jià)格很昂貴，通常用於科學(xué)研究。

GDS 彎曲晶片使得在三軸壓力室中小應(yīng)變情況下測量土的大剪切模量變得更加容易。該系統(tǒng)採用一對彎曲晶片，一個(gè)發(fā)射，另一個(gè)接收，在土中傳輸S波和P波。